怎样确定干涉条纹的数量

密封端面的平面度不同，条纹的种类也不同。图16表示了几种平面度合格的图像，至于不合格的图像各式各样未予绘出。

图16a是平直的条纹，表明密封端面的平面度接近光学平晶的平面度，显然这种平面度最高；图16b是弯曲的条纹，干涉条纹数在一条以内，即小于0.3μm；图16c也是弯曲的条纹，干涉条纹数为两条，平面度在0.6μm以内；图16d是同心圆状的干涉条纹，如果是从平板研磨后取下来检验平面度，这说明端面的内缘高，外缘较低，同心圆数量越多，其内外缘高低差别越大。对压力不高的密封不能超过3个同心圆（按平面度0.0009mm控制），否则密封端面泄漏量过大。在压力较高的平衡型密封中，可能将密封端面推开，因此，如出现同心圆状的条纹，不要超过2个。

平面度检验时务必经抛光后才能进行，否则，表面光洁度不够，条纹照射不出来，尤其对石墨环更是这样。此外，平晶和密封环端面要擦干净，不得有水分和灰尘，平晶要精心保管，避免将面擦伤。为了保证检验的精度，还应对平晶定期校验。

干涉条纹是干涉仪中两束光波相遇时产生的一种现象，其中一束光通常来自于参照表面（通常为一个已知的光学平面），另一束光来自于被测试表面。当这两束光波相遇时，会因相干性而在空间中形成明暗相间的条纹，这就是干涉条纹。通过观察和分析这些干涉条纹，可以推断出被测试表面的平面度。

根据您的描述，可以使用以下步骤来确定干涉条纹的数量和平面度：

1. 准备光学平面（平晶）和被测密封端面（试件），确保两者都已清洁干净，没有水分和灰尘。

2. 将被测密封端面放置在光学平面上，使用干涉仪投射相干光源到这两个表面上。

3. 观察产生的干涉条纹。如果条纹是平直的（如图16a），这说明试件的平面度接近光学平面的平面度，平面度较高。

4. 如果条纹是弯曲的（如图16b和图16c），则通过观察弯曲的程度和条纹数来评估平面度。通常，每一条完整的干涉条纹代表半个波长的高差。所以根据您所用的光源波长，您可以计算出平面度。例如，0.3微米波长的光，条纹数小于1条（即高差小于0.3微米），图16c的干涉条纹数为两条，平面度在0.6微米以内。

5. 如果观察到同心圆状的干涉条纹（如图16d），这表明试件的中心部分与边缘部分存在高度差异。同心圆的数量越多，这种高低差别越大。依据具体要求（如密封对平面度的标准），决定是否接受此种平面度。

6. 最后，根据您的密封要求（如压力水平等）来确定条纹数量的标准。例如，对于压力不高的密封，不超过3个同心圆（按照平面度0.0009mm控制）；对于压力较高的平衡型密封，不要超过2个同心圆。

为了保证检验的精度，平晶应定期校验，确保其平整度和完好程度，以维持准确的测量结果。
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